全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)xFiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射線熒光分析法來進(jìn)行測(cè)量, 下但可以測(cè)量金屬層厚度及金屬之間的比重, 還可以進(jìn)行金屬物料分析。
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Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的設(shè)計(jì)是專門測(cè)量金屬鍍層厚度的 |